X光射線光電子能譜儀(XPS)
最後更新日期 :
2022-12-23
儀器負責人:黃啟賢 教授
分機:4457
操作者:魏佚衿 經理
分機:4390
地點:電漿薄膜中心2館2F
儀器原理:
儀器廠牌: ULVAC-PHI. Inc. 型號:PHI 5000 VersaProbe III
儀器規格:
X-ray光源:Al Kα Monochromator
真空系統≦6.7×10-8 Pa
能量解析度≦ 0.5eV at Ag 3d5/2 peak
分析面積≦ 10μm~1400μm
UPS:Ultra Violet source (He紫外光光源)
服務項目:
1.全能譜圖(survey)
2單元素能譜圖(multiplex)
3.元素線掃描(line scan)
4.元素影像掃描(mapping)
5.成分縱深分析(depth profiling)
6.紫外光電子能譜(UPS)
實驗之數據:
1.全能譜圖(survey)
2.紫外光電子能譜(UPS)
儀器圖片:
注意事項:
1.試片樣品不得具有磁性、毒性及輻射性。
2. 為避免污染儀器之超高真空系統,分析樣品以低揮發性物質為限。本設備之準備腔不作為抽除揮發性物質之用。樣品中若含有高揮發性分子或鍍膜,恕不接受分析。
3.粉體試樣請事先自行壓成薄片狀再送測。
貴重儀器規章辦法及收費標準:
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