紫外、紅外線/可見光分光光譜儀 (UV/VIS/NIR spectrometers)
最後更新日期 :
2024-03-25
儀器負責人:游洋雁 老師
分機:6305
地點:電漿薄膜中心2館2F
儀器原理:
紫外、紅外線/可見光分光光譜儀(UV/VIS/NIR spectrometers)是一種分析材料透光率及反射率的儀器,可適用於電子、光電、化工、材料等研究領域。紫外線/可見光分光光譜儀的基本原理乃根據光電效應。紫外線及可見光分別照射材料表面時可獲得材料之吸收起始波長,其之能隙(energy gap)可利用下列公式計算。
Eg=1240/λonset
當分子中的電子間遭受到光線的照射時,會吸收特定的能量,一般而言,不同的光線能量會造成不同的電子躍遷,在紫外光/可見光的範圍,即形成UV/VIS 光譜。由於每一特定的官能基,均會有特定波長的吸收,因此可藉由UV 光譜做為分子官能基定量測量工作。
儀器圖片:
UV-Vis 670
積分球模組
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